本標準規(guī)定了透射電鏡（TEM）在很大放大倍率范圍內所記錄的圖像的校準方法。用于校準的標準物質具有周期性結構，例如衍射光柵復型、半導體的超點陣結構或X射線分析的分光晶體以及碳、金或硅的晶體晶格像。
本標準適用于記錄在照相膠片上或成像板上或數(shù)字相機內置傳感器采集的 TEM圖像的放大倍率。本標準也可用于校準標尺，但不適用于專用的臨界尺寸測長透射電鏡（CD-TEM）和掃描透射電鏡（STEM）。
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