本文件規(guī)定了室溫下采用雙環(huán)法測(cè)定精細(xì)陶瓷等雙軸彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)方法。
本文件適用于平均晶粒尺寸小于100 μm的單相陶瓷材料等雙軸彎曲強(qiáng)度的測(cè)定。本文件也適用于各相平均晶粒尺寸(或長(zhǎng)度)均小于100 μm,顆粒、晶須和(或)非連續(xù)纖維增強(qiáng)的復(fù)相陶瓷等雙軸彎曲強(qiáng)度的測(cè)定。
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