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納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 44223-2024
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司、珠海歐美克儀器有限公司、合肥鴻蒙標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院有限公司等
發(fā)布日期: 2024-07-24
實(shí)施日期: 2025-02-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2025年08月25日
內(nèi)容摘要

本文件給出了動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀的原理,規(guī)定了其性能、電源電壓適應(yīng)性、環(huán)境適應(yīng)性、安全性、機(jī)械結(jié)構(gòu)、試驗(yàn)條件等技術(shù)要求,描述了其準(zhǔn)確性、重復(fù)性的試驗(yàn)方法。
本文件適用于測(cè)量納米級(jí)及亞微米級(jí)顆粒的平均粒徑、粒徑分布等參數(shù)的粒度分析儀的試驗(yàn)、檢測(cè)、運(yùn)行和維護(hù)。

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