GB/T17626的本部分給出了利用各種 TEM 波導(dǎo)進(jìn)行電子和電氣設(shè)備發(fā)射和抗擾度試驗的方法。
TEM 波導(dǎo)有開放式(例如,帶狀線和電磁脈沖(EMP)模擬器)和封閉式(例如,TEM 室),還可以進(jìn)一步分為單端口、雙端口和多端口波導(dǎo)。TEM 波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和 TEM 波導(dǎo)的具體類型。
本部分的目的是給出:
———TEM 波導(dǎo)的性能,包括典型的頻率范圍和對 EUT 尺寸的限制;
———用于電磁兼容(EMC)試驗的 TEM 波導(dǎo)的確認(rèn)方法;
———EUT(即 EUT 殼體和連接電纜)的定義;
———在 TEM 波導(dǎo)中進(jìn)行輻射發(fā)射試驗的試驗布置、步驟和要求;
———在 TEM 波導(dǎo)中進(jìn)行輻射抗擾度試驗的試驗布置、步驟和要求。