電磁兼容試驗(yàn)和測量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測量

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 17626.22-2017

替代情況：

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

起草單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、中國計(jì)量科學(xué)研究院、中國電力科學(xué)研究院等

發(fā)布日期： 2017-12-29

實(shí)施日期： 2018-07-01

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更新日期： 2018年04月16日

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內(nèi)容摘要

GB/T 17626的本部分涉及電子和/或電氣設(shè)備的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的測量，規(guī)定了在全電波暗室（FAR）內(nèi)進(jìn)行的輻射發(fā)射和輻射抗擾度的試驗(yàn)程序。?
注：依據(jù)GB/Z 18509，本部分是供相關(guān)產(chǎn)品委員會使用的電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，如導(dǎo)則GB/Z 18509所述，產(chǎn)品委員會負(fù)責(zé)確定對其EMC產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)的適用性，TC 77/SAC/TC 246、CISPR/SAC/TC 79及其分委員會（例如，SAC/SC 7）已準(zhǔn)備好與產(chǎn)品委員會在標(biāo)準(zhǔn)制定和修訂的合作中一起來確定特定EMC試驗(yàn)在具體產(chǎn)品中的作用。?
本部分規(guī)定了在同一個(gè)全電波暗室進(jìn)行輻射發(fā)射測量與輻射抗擾度試驗(yàn)時(shí)的通用確認(rèn)程序、受試設(shè)備（EUT）的試驗(yàn)布置要求以及全電波暗室測量方法（詳見附錄A和附錄B）。?
作為電磁兼容基礎(chǔ)測量標(biāo)準(zhǔn)，本部分對應(yīng)用于具體裝置或系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)電平或發(fā)射限值不做具體規(guī)定，其主要目標(biāo)是為國內(nèi)相關(guān)產(chǎn)品委員會提供常規(guī)測量程序，而針對產(chǎn)品的具體要求和試驗(yàn)條件由相應(yīng)的產(chǎn)品委員會來規(guī)定。?
本部分的方法適用于30 MHz～18 GHz頻率范圍內(nèi)的輻射發(fā)射和抗擾度測量。