本標準測試方法適用于具有一體化結構，呈圓、扁平或方形結構的單芯或多芯銀和/或銀合金包套Bi-2212與Bi-2223氧化物超導體短直樣品直流臨界電流的測量。
本標準測試方法適用于臨界電流小于500 A、n值大于5的超導體。測量可在有或無外加磁場的條件下進行。在磁場環(huán)境中測試時，磁場應垂直于樣品的長度方向。在帶狀樣品的測試中，磁場可垂直或平行于超導體較寬的一面（如果是方形，任何一面均可）。測試過程中，被測樣品浸泡在液氮或液氦中。本標準還給出了在通常測試中本實驗方法所允許的偏差以及其他具體限定。