本標準規(guī)定了發(fā)光二極管芯片光參數、直流電參數以及靜電放電敏感性的點測條件和點測方法。
本標準適用于批量生產的可見光發(fā)光二極管正裝芯片和薄膜芯片的檢測方法。紫外光、紅外光發(fā)光二極管芯片以及外延片的點測也可參照使用。
本標準不適用于發(fā)光二極管芯片的熱參數和交流特性測試。