本部分規(guī)定了沿光纖縱軸向定量地機(jī)械剝?nèi)ケＷo(hù)涂覆層所需的力的試驗(yàn)方法，確立了測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。
本部分適用于標(biāo)稱包層直徑為125μm且標(biāo)稱外涂覆層（包含緊包緩沖層）直徑為的200μm～900μm 的A1類、A2類、A3類、B類、C類和D類光纖的涂覆層可剝性測(cè)量。其它標(biāo)稱包層直徑的光纖可參考本部分進(jìn)行測(cè)量。