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半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理

標 準 號： GB/T 14114-1993
替代情況：
發(fā)布單位： 國家技術監(jiān)督局
起草單位： 上海件五廠
發(fā)布日期： 1993-01-21
實施日期： 1993-08-01
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更新日期： 2025年09月04日
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內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器的電參數(shù)測試。

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