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半導體集成電路數字鎖相環(huán)測試方法的基本原理

標 準 號: GB/T 14032-1992
替代情況:
發(fā)布單位: 國家技術監(jiān)督局
起草單位: 上海件五廠
發(fā)布日期: 1992-01-02
實施日期: 1993-08-01
點 擊 數:
更新日期: 2025年09月04日
內容摘要

本標準規(guī)定了半導體集成電路數字鎖相環(huán)電參數測試方法的基本原理。

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