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介電晶體介電性能的試驗(yàn)方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 16822-1997
替代情況：
發(fā)布單位： 國家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 中國科學(xué)院物理研究所
發(fā)布日期： 1997-05-28
實(shí)施日期： 1998-02-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年09月10日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電晶體的低頻（10MHz以下)介電系數(shù)及介電損耗的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于介電晶體的介電性能的測(cè)定。

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