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半導體設備可靠性、可用性和維修性（RAM）測量方法
[ 注：本標準即將實施，距離實施日期還有147天]
標 準 號：
GB/T 24468-2025
替代情況：
替代 GB/T 24468-2009
發(fā)布單位：
國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位：
星奇(上海)半導體有限公司、常熟市兆恒眾力精密機械有限公司、上海隱冠半導體技術有限公司等
發(fā)布日期：
2025-10-05
實施日期：
2026-05-01
點 擊 數(shù)：
更新日期：
2025年12月04日
下載地址：
點擊這里
873.75KB
下載點數(shù)：
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內(nèi)容摘要
本文件描述了半導體設備可靠性、可用性和維修性（RAM）的測量方法。
本文件適用于半導體設備的可靠性、可用性和維修性（RAM）測試。
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液晶配向膜測試方法 第3部分：光電性能
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