本文件描述了在傳導(dǎo)射頻(RF)騷擾存在的情況下利用大電流注入(BCI)法測(cè)量集成電路(IC)抗擾度的試驗(yàn)方法,例如,由輻射RF騷擾引起的傳導(dǎo)RF騷擾。這種方法僅用于有板外連線的IC,例如連接到電纜束。本試驗(yàn)方法把RF電流注入到一根或一組線纜。