本文件描述了在傳導射頻(RF)騷擾存在的情況下利用大電流注入(BCI)法測量集成電路(IC)抗擾度的試驗方法,例如,由輻射RF騷擾引起的傳導RF騷擾。這種方法僅用于有板外連線的IC,例如連接到電纜束。本試驗方法把RF電流注入到一根或一組線纜。
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