本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域的組件(如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動綜合試驗。
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