本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫、高溫、濕熱試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機械、化學(xué)和電子設(shè)備）的低溫、高溫與濕熱試驗。