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晶體折射率的試驗(yàn)方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 16863-1997
替代情況：
發(fā)布單位： 國家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 中國科學(xué)院物理研究所
發(fā)布日期： 1997-06-16
實(shí)施日期： 1997-12-01
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更新日期： 2025年09月10日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在室溫下，可見光波段范圍內(nèi)，用最小偏向角法測量晶體折射率的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體折射率的測試。

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