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貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 15078-2008

替代情況：替代 GB/T 15078-1994

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

起草單位：貴研鉑業(yè)股份有限公司

發(fā)布日期： 2008-03-31

實(shí)施日期： 2008-09-01

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更新日期： 2010年08月23日

內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料（靜態(tài)）接觸電阻的測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬及其合金電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量。其他金屬及合金電觸點(diǎn)材料也可參照使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１５０７８—１９９４《貴金屬電觸點(diǎn)材料接觸電阻的測(cè)量方法》。
本標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相比，主要變化如下：
———用于測(cè)量裝置的直流電源、電位器、可調(diào)電阻，采用直流恒流源替代，優(yōu)化了測(cè)量線路；
———試樣的表面清潔處理更合理、科學(xué)。