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超導(dǎo)電性:鈮-酞復(fù)合超導(dǎo)體剩余電阻比測定

標 準 號: GB/T 25897-2010
替代情況:
發(fā)布單位: 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、國家標準化管理委員會
起草單位: 北京有色金屬研究總院、中國科學(xué)院物理研究所、西北有色金屬研究院等
發(fā)布日期: 2011-01-10
實施日期: 2011-01-10
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更新日期: 2013年10月09日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了由銅、銅-鎳(Cu、Cu-Ni)或銅/銅-鎳(Cu/Cu-Ni)基體和鈮-鈦(Nb-Ti)芯絲組成的復(fù)合超導(dǎo)體的剩余電阻比(RRR)測試方法。本標準適用于無外加磁場的條件下,對剩余電阻比低于350、橫截面小于3mm2、具有矩形或圓型橫截面的一體化超導(dǎo)線進行剩余電阻比的測定。

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