本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了規(guī)定了X射線熒光光譜法測定氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、儀器設(shè)備、分析步驟及分析重復(fù)性、精密性等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于氫氧化鋁中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的測定。測定范圍：SiO2：0.005％～0.08％，F(xiàn)e2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。
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