本標準規(guī)定了使用渦流測厚儀無損測量非磁性基體金屬上非導電覆蓋層厚度的方法。本方法適用于測量大多數陽極氧化膜的厚度；但它不適用于一切的轉化膜，有些轉化膜因為太薄而不能用這種方法測量。
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