本文件描述了半導(dǎo)體單晶材料在波長0.2μm?300μm范圍內(nèi)透過率的測(cè)量方法。
本文件適用于硅、鍺、磷化銦、硒化鎘、硫化鎘、碳化硅、氮化鎵、氧化鎵、藍(lán)寶石、金剛石等半導(dǎo)體單晶材料透過率的測(cè)定。