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半導體芯片產品 第6部分:熱仿真要求

標 準 號: GB/T 35010.6-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 哈爾濱工業(yè)大學、中國航天科技集團公司第九研究院第772研究所、成都振芯科技有限公司、北京大學
發(fā)布日期: 2018-03-15
實施日期: 2018-08-01
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更新日期: 2018年05月12日
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內容摘要

本部分用于指導半導體芯片產品的生產、供應和使用,半導體芯片產品包括:
晶圓;
單個裸芯片;
帶有互連結構的芯片和晶圓;
最小或部分封裝的芯片和晶圓。
本部分規(guī)定了所需的熱仿真信息,在于促進電子系統(tǒng)熱學行為和功能驗證仿真模型的使用。電子系統(tǒng)包括帶或不帶互連結構的半導體裸芯片,和(或)最小封裝的半導體芯片。本部分是為了使芯片產品供應鏈所有的環(huán)節(jié)都滿足IEC 62258-1和IEC 62258-2 的要求。

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