GB/T 5594的本部分規(guī)定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路等基片等用電子陶瓷材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法。
本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為1MHz，溫度從室溫至500℃條件下的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定。
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法…電子商務(wù)平臺(tái)運(yùn)營(yíng)與技術(shù)規(guī)范安全信息識(shí)別系統(tǒng) 第2部分：設(shè)置原則…公共信息標(biāo)志 材料、構(gòu)造和電氣裝置…電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法…直驅(qū)永磁風(fēng)力發(fā)電機(jī)組 第2部分：試驗(yàn)…信息安全技術(shù) 信息安全風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估實(shí)施…風(fēng)能資源術(shù)語(yǔ)
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