硅錠、硅塊和硅片中非平衡載流子復(fù)合壽命的測(cè)試非接觸渦流感應(yīng)法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 42907-2023

替代情況：

發(fā)布單位：國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

起草單位： TCL中環(huán)新能源科技股份有限公司、弘元新材料(包頭)有限公司、隆基綠能科技股份有限公司

發(fā)布日期： 2023-08-06

實(shí)施日期： 2024-03-01

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更新日期： 2023年09月11日

內(nèi)容摘要

本文件描述了用非接觸式渦流感應(yīng)法測(cè)試太陽(yáng)能電池用單晶硅錠、硅塊和硅片中非平衡載流子復(fù)合壽命的方法。本文件適用于非平衡載流子復(fù)合壽命在0.1 μs～10 000 μs、電阻率在0.1 Ω·cm～10 000 Ω·cm的硅錠、硅塊和硅片的測(cè)試。其中瞬態(tài)光電導(dǎo)衰減法適用于非平衡載流子復(fù)合壽命小于100 μs時(shí)硅錠、硅塊和硅片的測(cè)試，準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)法適用于非平衡載流子復(fù)合壽命大于200 μs時(shí)硅錠、硅塊和硅片的測(cè)試，非平衡載流子復(fù)合壽命在100 μs～200 μs時(shí)，兩種測(cè)試方法均適用。