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珍珠珠層厚度測(cè)定方法 光學(xué)相干層析法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 23886-2009
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)土資源部
起草單位： 全國(guó)珠寶玉石標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布日期： 2009-06-01
實(shí)施日期： 2010-01-01
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更新日期： 2025年11月28日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用光學(xué)相干層析技術(shù)無(wú)損測(cè)量珍珠珠層厚度的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于珍珠珠層厚度的測(cè)定。?

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